作者：admin 时间：2025-2-20 10:25:52
西格玛光机X线同轴变倍观察系统，采用OptoSigma的SIZM变倍显微镜镜筒，可搭配PLLW-5-HV、PLLW-10-HV、PLLW-20-HV、PALLW-10-HV 4款不同参数的SIGMAKOKI真空物镜，允许客户采用X射线衍射法对样品进行X射线环境下的观察。
X射线衍射法
X射线衍射法是一种常用的技术，广泛应用于制药工业、冶金工业、高分子工业、环境学研究和材料学研究等领域。，材料的分析与研究。 X射线衍射法通过测量X射线在样品中的衍射角度和强度，来确定样品的结构和组成。每种物质都有对于X射线的特殊性质，这些与衍射角和衍射强度有对应关系，因此可以根据衍射数据来对物质进行分析。
西格玛光机真空用物镜
客户使用X射线衍射法进行观察时，首先需要对准被观察的样品位置，同时还需要在物镜中心开出一个小的通孔通过X射线。西格玛光机可以为客户提供数款真空物镜（中心通孔）的标准型号（PLLW-5-HV、PLLW-10-HV、PLLW-20-HV、PALLW-10-HV）下表整理了OptoSigma真空物镜的标准品参数。
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型号 |
光学倍率① |
孔径②（mm） |
焦距（mm） |
同焦距离 |
工作距离（mm） |
分辨率（um） |
NA |
摄像头视野［mm］① |
|
PLLW-5-HV |
1.4~19.4 |
φ1.0 |
36 |
45 |
22.5 |
3.4 |
0.1 |
X 3.7~0.33 Y 3.4~0.25 |
|
PLLW-10-HV |
2.8~38.8 |
φ1.5 |
18 |
45 |
19 |
1.4 |
0.25 |
X 1.9~0.66 Y 1.7~0.12 |
|
PLLW-20-HV |
5.6~77.6 |
φ1.0 |
9 |
45 |
11.5 |
1 |
0.35 |
X 0.93~0.08 Y 0.86~0.06 |
|
PALLW-10-HV |
2.5~35 |
φ1.5 |
20 |
95 |
34 |
1.2 |
0.3 |
X 2.1~0.18 Y 1.9~0.14 |
① 这里的光学倍率，是指和变倍显微镜筒（型号：SIZM）组合使用时的数值。
② 用于低倍率时，会影响视野，实际视野会略变小。
下图为SIGMAKOKI 的PLLW-5-HV、PLLW-10-HV、PLLW-20-HV、PALLW-10-HV 4款真空用物镜（中心通孔）标准品的外型尺寸图
西格玛光机物镜与反射镜光路
X射线衍射法进行观察的光路相对于普通的显微镜观察方式有一定的出入，下面将SIGMAKOKI提出的一种简单的X线同轴变倍观察系统的光路进行粗略的描述：
X线辐射源从反射镜的另一端入射，通过小孔进入真空用物镜，初次穿过样品，在经过反射镜后再次穿过样品，通过样品的旋转，获得样品不同角度的X射线的成像信息，从而对样品进行参数的收集和观察。
西格玛光机SIZM的X线同轴变倍观察的系统构成
西格玛光机X线同轴变倍观察系统采用X射线衍射法进行观察时通常使用的是OptoSigma的SIZM变倍显微镜镜筒。整个系统的构成主要由观察端的摄像头，中间用于变倍的自动控制器和提供照明的光源，物镜端的折返反射镜与带有中心通孔的真空用物镜组成。SIZM变倍镜筒的侧边可以安装XZ轴和θα轴手动对位平台，方便客户对系统进行位置和角度的调整。
