高分辨率光束分析仪
高分辨率光束分析仪灵敏度为5nW/cm2-60µW/mm2。该设备具有12位动态范围，可检测连续和脉冲激光光斑的位置、功率、高斯拟合、光强分布。高清晰度激光探测器具备更小的像素尺寸以及更多的像元数量，该设备的的CCD探测器有2种配置，一种是红外专用的1550nmCCD探测器，另一种是针对波长范围350-1310nm。
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微米光束分析仪
uBeam光束分析仪以用于实时测量和显示亚微米范围的连续或脉冲激光、光纤以及激光二极管的光束轮廓，主要是聚焦光斑，配合10倍到100倍物镜放大，实际像素可以变成0.4μm到0.04μm，可以测量小至0.5um的光束。因此也称为聚焦光斑测试仪。属于CCD型光束分析仪，其CCD面积3.2x2.4mm，波长范围350~1310nm，像素~4x4μm
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BeamOn 光束分析仪
以色列DUMA生产的Beamon光束分析仪主要满足用户对激光光斑轮廓，光斑位置，光斑大小，光斑能量分布以及质心位置的分析，同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能，包含Excel，World或文本格式导出，方便用户对检测数据进行二次处理。分为三种类型：CCD传感器光斑分析仪，CMOS传感器光斑分析仪以及运用刀口式分析（机械式）的光斑分析仪，可以实现检测连续激光（CW）或脉冲激光（Plused）的需求。BeamOn 光束分析仪波长范围覆盖190~1600nm，像素最小达到4.65x4.65μm，探测器面积最大可达58x45mm。
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光束轮廓仪
BeamWave系列光束质量分析仪设备的通用性强，连续和脉冲光束都能测量，十分适合客户用于各类激光参数研究。同时BeamWave光束质量分析仪（M2仪，激光轮廓仪）还可以检测波前传感曲线，并具有高分辨率、测量速度快、测量功能更全面，无需繁琐的导轨等优点，仅需一台BeamWave即可测量所有的激光光束参数。包括光束发散角，光斑位置大小，三维能量分布，波前能量、相位分布，波前曲率半径等。
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BeamOn U3光束分析仪
BeamOn U3适合多种用途。测量范围包括：光束宽度、光斑的形状、位置、功率、强度分布，软件还提供了报表功能，还可以测量激光的光束质量，M2值。是最新一代的光束轮廓诊断设备，其最大的特点是大口径、高分辨率、宽光谱，也称为CCD型光斑分析仪，激光测量仪。它的探测器CCD面积11x7mm（分辨率1920x1200），像素5.86x5.86μm，两百万像素宽光谱探测器，具有12位动态范围和350-1600 nm的光谱响应，附件齐全，具备与其匹配的运行程序。
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