中科光学,飞秒激光镜片,激光晶体,微透镜阵列,隔震台,显微镜平台,光束轮廓仪 联系我们
产品中心
光束分析仪 首页 > 产品中心 > 光束分析仪
Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪

Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪

Beamon-TEC制冷型光斑分析仪配备了8.3兆像素的高分辨率传感器(最高分辨率 3800x2200 像素),光束宽度分辨率达1微米,可精确测量直径范围在30微米至6毫米的光束。制冷光束分析仪Beamon-TEC标准光谱响应覆盖350至1300纳米,并在近红外波段(如超过1350纳米)表现出增强的灵敏度。

所属品牌: DUMA

产品介绍

BeamOn-TEC 是一款主动制冷式激光光束制冷分析仪,它通过整合精密的温度控制单元,显著降低了传感器暗电流与热噪声,从而实现了前所未有的测量稳定性。系统配备了一块高分辨率、高灵敏度的图像传感器,并搭载了功能强大的分析软件,能够对各种连续波(CW)与脉冲激光的光束参数进行精确、实时、全面的定量分析。


Beamon-TEC制冷型光斑分析仪核心特点:

Beamon-TEC制冷型光斑分析仪配备了8.3兆像素的高分辨率传感器(最高分辨率 3800x2200 像素),光束宽度分辨率达1微米,可精确测量直径范围在30微米至6毫米的光束。制冷光束分析仪Beamon-TEC标准光谱响应覆盖350至1300纳米,并在近红外波段(如超过1350纳米)表现出增强的灵敏度。Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪核心特性包括可调节至-20°C及以下的TEC冷却以抑制热噪声、实时温度监控,以及能够分析光束轮廓、宽度、位置和功率的综合软件。

卓越的光学性能

超高分辨率:采用8.3兆像素传感器(有效面积11.2 mm x 6.3 mm),最高分辨率达3800x2200像素,确保了光束轮廓的清晰细节展现。

极优的波长适应性:制冷光束分析仪Beamon-TEC标准光谱响应范围覆盖350 nm至1300 nm(可见光至近红外),并在近红外波段(尤其超过1300 nm)具备增强的灵敏度(制冷型近红外光斑分析仪)。对于特定高波长需求,可提供定制方案。

精细光束测量能力:光束宽度分辨率可达1微米或更优,能够精确分析从30微米到6毫米直径的各种光束尺寸。

先进的温度控制技术

可调谐热电制冷(TEC):制冷光束分析仪Beamon-TEC支持调节至-20°C 及更低的传感器工作温度,有效抑制因热量积累产生的暗电流与热噪声,为高精度、长时程测量提供了根本保障。

实时温度监控:Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪软件界面提供实时高分辨率传感器温度显示,使操作者能够随时监控系统热状态,激光光束制冷分析仪确保测量条件的稳定与复现性。

强大的数据分析与易用性

低噪声高信噪比:激光光束制冷分析仪得益于制冷设计,系统在测量连续波和脉冲激光时均能获得极佳的信噪比,输出更“干净”、更可靠的数据。

直观多功能软件:配套软件提供完整的光束分析功能,包括但不限于:二维/三维轮廓图、光束宽度(如D4σ、刀边法)、形状参数(如椭圆度)、质心位置、功率/能量密度,并与传感器温度数据实时联动。

灵活的传感器分区:传感器可被划分为最多400个独立工作扇区,并行处理多光束或进行空间多区域同步测量。



图:Beamon-TEC制冷型光斑分析仪

Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪详细技术规格参数表:

项目

规格与描述

适用激光类型

连续波(CW)与脉冲激光

光束宽度分辨率

≤ 1 微米

最大分辨率(水平x垂直像素)

3800 x 2200 像素

可测光束尺寸范围

30 μm – 6 mm

标准光谱响应范围

350 – 1300 nm

传感器有效面积

对角线12.8 mm 11.2 mm x 6.3 mm

最小像素尺寸

2.9 μm x 2.9 μm

增益控制范围

最高可达600

分区并行工作能力

最多可划分为400个扇区

热电制冷温度

可调节至 -20°C 及更低

快门速度范围

32 μs 2

曝光控制

可通过图形用户界面(GUI)编程控制

数据接口

USB 3.0

电源需求

12 V DC 3 A

机械接口/安装

立柱安装:M6螺纹;光学附件:C接口

外壳尺寸(直径 x 高度)

80 mm x 85 mm

典型重量

560

最低硬件要求

CPU: Intel i3 1.6 GHz, 内存: 4 GB RAM

操作系统

Windows 11

标准配件

相机主机、数据线、安装立柱、携带箱、ND1000滤光片、软件光盘/U

可选配件

IR边缘滤光片(厚度2.5 mm, 透射>1100 nm)、M42C接口适配器

-典型波长性能参考表:

波长 (nm)

饱和功率密度

灵敏度(优于)

633

20 μW/mm²

1 nW/mm²

980

100 μW/mm²

1 nW/mm²

1310

0.2 W/mm²

20 μW/mm²

Beamon-TEC制冷型光斑分析仪应用领域:

BeamOn-TEC 凭借其高灵敏度、高稳定性及宽光谱适应性,可广泛应用于:

-激光研发与制造:激光器性能测试、模式分析、光束质量评估,制冷型近红外光斑分析仪。

-精密加工:激光焊接、切割、打标等工艺中的光束监控与校准。

-光通信:光纤耦合效率测试、波分复用系统光束分析。

-科学研究:量子光学、冷原子物理、非线性光学等实验中的精密光束测量。

-生物医学:光学相干断层扫描(OCT)、共聚焦显微镜等系统的光束诊断。

订购信息

-产品型号:BEAMON-TEC

-标准配置:包含相机主机、USB 3.0数据线、安装立柱、专用携带箱、ND1000中性密度滤光片、以及预装分析软件的CD/U盘。

可选附件:

-IR边缘滤光片:用于截止特定波长以下的光,透射范围大于1100 nm

-M42转C接口适配器:用于连接标准C接口螺纹的光学附件。


相关产品
BeamOn X光斑测量仪

BeamOn X光斑测量仪

BeamOn X光斑测量仪

BeamOn X光斑分析仪属于CMOS光斑分析仪,软件通过CMOS成像、处理,显示质心定位、光束轮廓、能量分布,同时经过处理得出光束尺寸、光斑椭圆度的参数值。在光斑光束分析仪中,BeamOn X光斑检测仪分辨率高达643万,是DUMA激光光斑分析仪中具有成本效益的一款设备。

查看详细
Duma宽波段光斑分析仪

Duma宽波段光斑分析仪

Duma宽波段光斑分析仪

Duma专利技术使用户能够查看小于激光束最大功率密度1%时候的特征。仪器可进行连续光和脉冲光光斑分析,可进行的光束分析的测量参数包括:光斑尺寸、光斑的形状、光束质心位置、光斑强度分布。软件提供了报告功能。

查看详细
光束轮廓分析仪WinCamD-LCM系列

光束轮廓分析仪WinCamD-LCM系列

光束轮廓分析仪WinCamD-LCM系列

美国dataray光斑分析仪WinCamD-LCM系列的5.5 um像素,11.3 x 11.3 mm的探测器面积和4.2 MPixel的高分辨率能够满足大部分用户的要求。

查看详细
导轨式M2测量仪

导轨式M2测量仪

导轨式M2测量仪

美国Dataray针对需要测量M2的客户提供了相机成像和狭缝扫描系统,除了可以用来测量M2,还可以测量发散角、光束轮廓、束腰直径等。同时加入M2DU系列导轨组成的导轨式光束分析仪

查看详细
友情链接: 光电二极管(探测器) 光学镜片 激光晶体 光学平台及光机械 光学仪器 光学配件 西格玛光机,Optosigma 激光光束测量仪器 激光器及附件 微透镜 衍射元件 太赫兹产品

扫一扫,立即咨询